Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀

Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀是顆粒粒度分析的未來。

Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀是一款多功能的緊湊型儀器，集成了馬爾文帕納科先進的軟件功能，可滿足當前和未來實驗室的分析和工作需求。它結合了專家工程、內置應用專業知識和先進的云服務連接性能，提供：

• 優異的顆粒粒度分析性能，無論應用多么具有挑戰性，都能生成值得信賴的優質數據，同時充分利用寶貴的實驗室空間。

• 用戶友好型軟件，內置了自動測量設置、方法開發指導和實時數據質量反饋功能。包括新的Data Quality Guidance數據質量指南和 SOP Architect SOP架構師功能。

• 借助一系列專為測量懸浮液、乳液和粉末而定制的易于切換的自動化附件，靈活地滿足您的樣品要求。

• 借助人工智能驅動的解決方案，從您的數據中獲得獨到的新見解。包括使用馬爾文帕納科正在申請知識產權的自適應衍射技術的 Size Sure 瞬態穩態判斷模式。

• 使用 Smart Manager 進行實時健康監測以縮短停機時間，并借助 OmniTrust 控制儀器審計和訪問，從而獲得與廠商聯系最緊密的顆粒粒度分析體驗。

馬爾文帕納科在激光衍射顆粒粒度分析領域擁有豐富的知識，確保Mastersizer 3000+ Ultra激光粒度儀能夠快速、一致地提供您可以信賴的結果，并提供適合測量新手和顆粒粒度分析專家的軟件解決方案。

Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀使用激光衍射技術測量材料的粒度和粒度分布。它通過測量激光束通過分散顆粒時散射的光強度來實現這一點。然后分析這些數據，來計算產生散射模型的顆粒大小。三個主要元素使系統能夠持續可靠地提供準確、穩健的粒度數據，這是許多工業過程有效運行的核心。

• 光學平臺 ：Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀 使用單一光學測量路徑，可測量從10 nm 至 3.5 mm 的范圍，應用極為廣泛。分散的樣品通過光學平臺的測量區域，激光束照射到顆粒上。然后，一系列檢測器會精確測量紅光和藍光照射到的樣品顆粒產生的散射光強度，測量角度范圍很廣。
  
  

• 樣品分散附件 ：Mastersizer 3000+ Ultra 激光粒度儀 有六種濕法進樣器可供選擇，支持處理更大范圍的樣品體積和多種類型的分散劑。先進的干法進樣器可實現快速和可再現的粉末分散，即使是對易碎的材料也是如此。樣品分散附件可確保顆粒以正確的濃度和合適穩定的分散狀態傳送至光學平臺的測量區域，從而保證準確、可再現的測量結果。
  
  

• Mastersizer 軟件 ：儀器是否直觀易用，對客戶而言越來越重要，Mastersizer Xplorer 軟件可以滿足這一需求，有了它，無需專家的在線支持也可獲得出色的測量結果。該軟件在測量過程中對系統進行控制，分析散射數據以計算粒度分布。它的直觀界面可指導用戶完成流程的每個階段：從選擇穩健的方法到常規測量和結果報告。內置的關于方法開發、方法性能和結果質量的專家建議，可以降低培訓要求，從而使顆粒粒度分析更簡單、更快速。

• 常規

• 顆粒粒度	懸浮液、乳液、干粉等
  原理	激光衍射
  分析	米氏及弗朗霍夫理論
  數據采集速率	10 kHz
  典型測量時間	<10 秒
  尺寸 （寬, 長, 高）：	690mm x 300mm x 450mm
  重量	30 公斤

• 光學

• 紅光光源	最大值：4mW He-Ne，632.8nm
  藍光光源	最大值：10mW LED，470nm
  透鏡分布	反傅立葉配置
  有效焦距	300mm

• 檢測器

• 排列	對數間隔排列
  角度	0.015 – 144度
  對光	自動

  
  

• 粒度

• 顆粒粒度范圍	0.01 - 3500 µm *
  粒度分級數目	100 (用戶可調)
  準確度	優于0.6% **
  重復性	優于0.5%變量*
  重現性	優于1%變量*

  軟件

  21 CFR Part 11	使運行模式符合ER/ES標準。

  
  

  系統合規性

  激光等級	1 類 IEC60825-1:2007 和 CFR 章節 I：分章 J：第 1040 部分 (CDRH)
  法規規范	符合 RoHS 和 WEEE 要求符合 CE/FCC 標準滿足歐盟低電壓指令的要求

  
  

  系統

  功率	100/240 v，50/60 Hz 50W（未連接分散裝置）最高 200W （連接 2 個分散裝置）
  濕度	溫度高達 31°C 時，最大值為 80%；溫度為 40°C 時線性降低至 50%。非冷凝。
  運行溫度范圍	+5°C 至 +40°C
  產品儲存溫度	-20°C 至 +50°C

  
  

  知識產權保護	Mastersizer 光學平臺受保護，申請為 WO2013038161、WO2013038160 和 WO2013038159。

  
  

  * 取決于樣品及樣品制備。

  **準確定義單峰乳膠顆粒的測量標準。該參數取決于乳膠球顆粒制備的不確定度。依賴于樣品及樣品制備。